بررسی روش طیفنگاری فوتوالکترونی اشعه ایکس (XPS X-ray Photoelectron Spectroscopy) | |
تعداد صفحات | ۱۴ |
نوع فایل | Word |
حجم فایل | ۴۴۲ kb |
بررسی روش طیفنگاری فوتوالکترونی اشعه ایکس (XPS X-ray Photoelectron Spectroscopy)
در این قسمت بررسی روش طیفنگاری فوتوالکترونی اشعه ایکس (XPS X-ray Photoelectron Spectroscopy) به صورت فایل word برای دانلود ارائه شده است.
قسمتی از متن تحقیق در زیر نشان داده شده است.
طیف نگاری فوتوالکترونی اشعه ایکس (XPS) ، روش آنالیزی برای بررسی سطح مواد از نقطه نظر آنالیز عنصری، ترکیب شیمیایی و تعیین حالت پیوندی است. در این روش، سطح نمونه با اشعه ی ایکسِ تک انرژی بمباران می شود و فوتوالکترون های پر انرژی ترِ تولید شده موفق به فرار از ماده می شوند. این فوتوالکترون ها پس از ارسال به تحلیل گر انرژی و تعیین انرژی جنبشی آنها، به آشکارساز هدایت می شوند تا تعداد فوتوالکترون های تولیدی با انرژی جنبشی مشخص شمارش شوند.
در نهایت این اطلاعات به صورت تعداد فوتوالکترون ها بر حسب انرژی پیوندی رسم می شوند. از آن جایی که انرژی فوتوالکترون های داخلی، مشخصه هر اتم است؛ تعیین عناصر موجود در نمونه، با اندازه گیری انرژی های جنبشی فوتوالکترون های خارج شده از نمونه، امکان پذیر است. حالت شیمیایی عناصر موجود در نمونه، از انحرافات مختصر در انرژی های جنبشی و غلظت های نسبی آن عناصر با توجه به شدت های فوتوالکترون های مربوط به هر عنصر قابل اندازه گیری است.
مقدمه
الکترون هایی که در مدارهای داخلیِ اتم ها قرار گرفته اند؛ با انرژی برابر با انرژی فوتون های پرتو اشعه ایکس به هسته مقید شده اند. وقتی ماده ی جامدی انرژی برابر با انرژی اتصال یک الکترون جذب می کند؛ یک فوتوالکترون ساطع می کند که انرژی جنبشی آن وابسته به انرژی فوتون تابیده است که انرژی الکترون های داخلی که از اتم ها جدا می شوند؛ مشخصه آن اتم محسوب می شود.
طیف نگاری فوتوالکترونی اشعه ایکس،( XPS=X-ray Photoelectron Spectroscopy) ، به معنای طیف نگاری الکترون های جدا شده از ماده در اثر تابش فوتون های اشعه ایکس است. این تکنیک در میان شیمیدان ها به نام(ESCA =Electron Spectroscopy for Chemical Analysis ) شناخته می شود. در این روش، فوتون های تک انرژی اشعه ایکس به اتم های ماده برخورد می کنند و الکترون ها از سطوح مختلف انرژیِ ماده کنده می شوند.
بنابراین، طیفی از الکترون ها با انرژی های گوناگون خواهیم داشت. به علت تکفام بودن اشعه ایکس و قرار داشتن الکترون ها در سطوح گسسته انرژی، انرژی الکترون های جدا شده نیز مقادیر گسسته ای دارند. الکترون هایی که از سطح ماده خارج می شوند؛ در برخوردهای متوالی بخشی از انرژی خود را از دست می دهند و طیف کلی این آنالیز، مجموعه ای از پیک هاست که روی یک زمینه قرار گرفته اند. معمولا انرژی فوتون های اشعه ایکس ۱٫۵-۱ کیلوالکترون ولت است. این فوتون ها تک انرژی نیستند و پهنای انرژی آن ها بین ۰٫۵ تا ۱ الکترون ولت است. شکل ۱ طرح واره ای است که نشان می دهد با برخورد اشعه ایکس با انرژی کافی به سطح نمونه، الکترون از مدارهای داخلی خارج می شود.
بررسی روش طیفنگاری فوتوالکترونی اشعه ایکس (XPS X-ray Photoelectron Spectroscopy) | |
تعداد صفحات | ۱۴ |
نوع فایل | Word |
حجم فایل | ۴۴۲ kb |
کاربر گرامی، بلافاصله پس از خرید این پروژه، لینک دانلود آن برای شما فعال می شود. لینک دانلود پروژه به ایمیل شما هم ارسال می شود و با یک کلیک می توانید پروژه خود را دانلود نمایید.